PatentsView ist eine preisgekrönte Plattform für die Visualisierung, Verbreitung und Analyse von Patentdaten. Die Plattform wird vom Office of the Chief Economist der US-amerikanischen Patent- und Markenamt (USPTO) unterstützt und richtet sich an Studierende, Forscher, Politiker, kleine Unternehmer und die Öffentlichkeit.
PatentsView wurde 2012 als Teamprojekt zwischen der USPTO, der American Institutes for Research (AIR), der University of Massachusetts Amherst, der New York University, der University of California, Berkeley, Twin Arch Technologies und Periscopic ins Leben gerufen. Die Beta-Version wurde 2015 veröffentlicht, und die vollständige Website wurde 2017 lanciert. Seitdem hat sich die Plattform kontinuierlich entwickelt und bietet heute eine Vielzahl von Tools und Funktionen an.
PatentsView bietet eine Vielzahl von Funktionen und Tools, um Patentdaten zu visualisieren, zu analysieren und zu teilen. Zu den wichtigsten Funktionen gehören:
PatentsView wird von Forschern und Analysten verwendet, um Patentdaten zu analysieren und neue Erkenntnisse über Erfindungen und Innovationen zu gewinnen. Die Plattform bietet eine Vielzahl von Anwendungen, darunter die Analyse von Patenttrends, die Identifizierung von Innovationsclustern und die Untersuchung der Auswirkungen von Patenten auf die Wirtschaft.
PatentsView bietet regelmäßig Neuigkeiten und Veranstaltungen an, um die Benutzer über die neuesten Entwicklungen und Forschungsergebnisse auf dem Gebiet der Patentanalyse zu informieren. Zu den jüngsten Neuigkeiten gehören die Veröffentlichung des AI-Patent-Datasets und die Organisation eines Symposiums über die Identifizierung von Erfinder-Demographien.
Insgesamt bietet PatentsView eine umfassende Plattform für die Analyse und Visualisierung von Patentdaten und unterstützt Forscher, Politiker und die Öffentlichkeit bei der Erforschung von Erfindungen und Innovationen.
* KI-Zusammenfassungen können Fehler enthalten. Alle Angaben ohne Gewähr.